Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.kmf.uz.ua/jspui/handle/123456789/3382
Назва: | Structural and impedance studies of copper-enriched (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics |
Інші назви: | Структурні та імпедансні дослідження кераміки на основі збагаченого міддю (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I |
Автори: | Студеняк Ігор Studenyak Ihor Погодін Артем Pogodin Artem Шендер Ірина Shender Iryna Сергій Березнюк Bereznyuk Serhiy Філеп Михайло Filep Mykhailo Filep Mihály Кохан Олександр Oleksandr Kokhan Peter Kopčanský Peter Kopcansky |
Ключові слова: | argyrodite;superionic conductor;ceramic;ionic conductivity;activation energy |
Дата публікації: | 2020 |
Вид документа: | dc.type.collaborative |
Бібліографічний опис: | In Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2020. Volume 23., № 3. pp. 260-266. |
Серія/номер: | ;Volume 23., № 3. |
Короткий огляд (реферат): | Abstract. Copper-enriched (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics were prepared from the
micro- and nanopowders by pressing and sintering under developed technological
conditions. Structural studies at different process step stages of ceramic samples
preparation were performed using the XRD technique and microstructural analysis. The
frequency and temperature dependences of the total electrical conductivity for
(Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics were investigated by the impedance measurements.
From the Nyquist plots, by using the electrode equivalent circuits the ionic and electronic
components of the total electrical conductivity were determined. It has been shown that
both ionic and electronic conductivity nonlinearly depend on the average crystallites size of
(Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics. Резюме. Кераміку на основі збагаченого міддю (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I отримано згідно з розробленими технологічними умовами з мікро- та нанопорошків шляхом пресування та спікання. Структурні дослідження на різних стадіях процесу підготовки зразків кераміки проведено за допомогою методу рентгенівської дифракції та мікроструктурного аналізу. Частотні та температурні залежності загальної електропровідності кераміки на основі (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I було досліджено шляхом імпедансних вимірювань. З використанням діаграм Найквіста за допомогою електродних еквівалентних схем визначали іонні та електронні компоненти загальної електропровідності. Показано, що іонна та електронна електропровідності нелінійно залежать від середнього розміру кристалітів кераміки на основі (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I. |
Опис: | Contents: http://journal-spqeo.org.ua/n3_2020/n3_2020_contents.htm Editorial board: http://journal-spqeo.org.ua/EditorialBoard.html |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.kmf.uz.ua/jspui/handle/123456789/3382 |
ISSN: | 1605-6582 (Online) 1560-8034 (Print) |
metadata.dc.rights.uri: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ |
Розташовується у зібраннях: | Filep Mihály |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Studenyak_A_Pog_S_Bereznyuk_M_Filep_Structural_and_impedance_studies_copper_ceramics_2020.pdf | In Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2020. Volume 23., № 3. pp. 260-266. | 570.85 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Ліцензія на матеріал: Ліцензія Creative Commons