Structural and impedance studies of copper-enriched (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics

Abstract

Abstract. Copper-enriched (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics were prepared from the micro- and nanopowders by pressing and sintering under developed technological conditions. Structural studies at different process step stages of ceramic samples preparation were performed using the XRD technique and microstructural analysis. The frequency and temperature dependences of the total electrical conductivity for (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics were investigated by the impedance measurements. From the Nyquist plots, by using the electrode equivalent circuits the ionic and electronic components of the total electrical conductivity were determined. It has been shown that both ionic and electronic conductivity nonlinearly depend on the average crystallites size of (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I-based ceramics.

Резюме. Кераміку на основі збагаченого міддю (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I отримано згідно з розробленими технологічними умовами з мікро- та нанопорошків шляхом пресування та спікання. Структурні дослідження на різних стадіях процесу підготовки зразків кераміки проведено за допомогою методу рентгенівської дифракції та мікроструктурного аналізу. Частотні та температурні залежності загальної електропровідності кераміки на основі (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I було досліджено шляхом імпедансних вимірювань. З використанням діаграм Найквіста за допомогою електродних еквівалентних схем визначали іонні та електронні компоненти загальної електропровідності. Показано, що іонна та електронна електропровідності нелінійно залежать від середнього розміру кристалітів кераміки на основі (Cu0.75Ag0.25)7SiS5I.