Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.kmf.uz.ua/jspui/handle/123456789/3391
Назва: | Influence of cation Si 4+ ↔ Ge 4+ and P 5+ ↔ Ge 4+ substitution on the mechanical parameters of single crystals Ag7 (Si 1–x Ge x )S5I and Ag6+x (P1–x Gex )S5I |
Інші назви: | Вплив катіонного Si 4+ ↔ Ge 4+ and P 5+ ↔ Ge 4+ заміщення на механічні параметри монокристалів Ag7 (Si 1–x Ge x )S5I та Ag6+x (P1–x Gex )S5I |
Автори: | Shender Iryna Шендер Ірина Pogodin Artem Погодін Артем Filep Mykhailo Філеп Михайло Filep Mihály Malakhovska Tetyana Малаховська Тетяна Oleksandr Kokhan Кохан Олександр Vitaliy Bilanych Біланич Віталій Skubenych Kateryna Скубенич Катерина Symkanych Olesya Симканич Олеся Izai Vitalii Ізай Віталій Suslikov Leonid Сусліков Леонід |
Ключові слова: | argyrodite;single crystal;microhardness |
Дата публікації: | 2023 |
Вид документа: | dc.type.collaborative |
Бібліографічний опис: | In Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2023. Volume 26., № 4. pp. 408-414. |
Серія/номер: | ;Volume 26., № 4. |
Короткий огляд (реферат): | Abstract. Herein we present the results of microhardness investigations aimed at
monocrystalline samples of Ag7(Si1–xGex)S5I (0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8, 1) and Ag6+x(P1–xGex)S5I
(0, 0.25, 0.5, 0.75, 1) solid solutions. The dependence of microhardness H on the load P
and composition were investigated. It has been observed that the microhardness
dependence on the applied load is characterized by a tendency to decrease with increasing
the load. It indicates a presence of “normal” size effect in both Ag7(Si1–xGex)S5I and
Ag6+x(P1–xGex)S5I (0, 0.25, 0.5, 0.75, 1) solid solutions. The revealed size effects of
hardness in single crystals of Ag7(Si1–xGex)S5I and Ag6+x(P1-xGex)S5I solid solutions have
been analyzed within the framework of the gradient theory of plasticity. The corresponding
parameters of the model of geometrically necessary dislocations have been determined. Резюме. У даній роботі наведено результати досліджень мікротвердості монокристалічних зразків твердих розчинів Ag7(Si1–xGex)S5I (0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8, 1) та Ag6+x(P1–xGex)S5I (0, 0.25, 0.5, 0.75, 1). З’ясовано залежність мікротвердості H від навантаження P та складу. Виявлено, що залежність мікротвердості від прикладеного навантаження характеризується тенденцією до зменшення зі збільшенням навантаження. Це свідчить про наявність прямого розмірного ефекту як у твердих розчинах Ag7(Si1–xGex)S5I, так і Ag6+x(P1–xGex)S5I. Виявлені розмірні ефекти зміни твердості у монокристалах твердих розчинів складу Ag7(Si1–xGex)S5I та Ag6+x(P1–xGex)S5I було проаналізовано в рамках градієнтної теорії пластичності. Визначено відповідні параметри моделі геометрично необхідних дислокацій. |
Опис: | Contents: http://journal-spqeo.org.ua/n4_2023/n4_2023_contents.htm Editorial board: http://journal-spqeo.org.ua/EditorialBoard.html |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.kmf.uz.ua/jspui/handle/123456789/3391 |
ISSN: | 1605-6582 (Online) 1560-8034 (Print) |
metadata.dc.rights.uri: | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ |
Розташовується у зібраннях: | Filep Mihály |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Shender_I_Pogodin_A_Filep_M_Influence_of_cation_Si4_Ge4_and_P5_Ge4_substitution_2023.pdf | In Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2023. Volume 26., № 4. pp. 408-414. | 827.86 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Ліцензія на матеріал: Ліцензія Creative Commons