Electrical properties of cation-substituted Ag7(Si1-xGex)S5I single crystals

Abstract

Abstract. High-quality single crystals of Ag7(Si1–xGex)S5I (x = 0.2, 0.4, 0.6, 0.8) solid solutions are grown from the solution–melt by vertical zone crystallization method. The measurements of electrical conductivity of Ag7(Si1–xGex)S5I solid solutions were performed using the impedance spectroscopy method within the frequency range from 10 Hz up to 2·106 Hz and temperature interval 293–383 K. Ionic and electronic components of electrical conductivity, as well as their ratios, were determined using the Nyquist plots.

Резюме. Якісні монокристали твердих розчинів Ag7(Si1–xGex)S5I (x = 0.2, 0.4, 0.6, 0.8) вирощені із розчинурозплаву методом вертикальної зонної кристалізації. Вимірювання електропровідності твердих розчинів Ag7(Si1–xGex)S5I проведено методом імпедансної спектроскопії в діапазоні частот від 10 Гц до 2·106 Гц та температурному інтервалі 293–383 K. Іонні та електронні компоненти електропровідності, а також їх співвідношення визначали за допомогою діаграм Найквіста.